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Olympus WLI 无限远校正干涉物镜采用先进光学设计,兼具高数值孔径和宽视场,可在大面积范围内捕捉精细表面细节,实现清晰成像。每个物镜均配有内置调节环,可补偿温度引起的焦点漂移,即使在不稳定的环境条件下也能保持稳定性和一致的测量精度。该系列物镜设计用于搭配焦距为 180mm 的筒镜使用,提供 10 – 50X 放大倍率。Olympus WLI 无限远校正干涉物镜非常适合 3D 表面测量和轮廓测量应用,包括半导体检测、精密加工、光学镀膜评估和微电子表征。
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