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Laser Beam Analysis

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DataRay CMOS光束质量分析仪 DataRay CMOS光束质量分析仪 新产品
  • 设计工作波长355 至1150nm
  • 适用于至小光斑直径 52µm 的光束
  • 提供强大易用的免费软件
  • 可测量光束漂移、M² 以及发散角等
DataRay 狭缝扫描式光束质量分析仪 DataRay 狭缝扫描式光束质量分析仪 新产品
  • 设计工作波长190至 1150nm
  • 可测量光束直径为 2µm 至 4mm
  • 提供功能强大且易于使用的控制软件
爱特蒙特光束质量分析仪 爱特蒙特光束质量分析仪
最畅销产品
  • 高分辨率可准确测量及分析小光束质量特性
  • 可为大光束进行分析的大面积传感器
  • USB 3.0接口实现最快传输率
#11-760 Edmund Optics TPA Ultrafast Autocorrelator by APE (700-1100nm) 超快自相关仪
  • 适合超快激光脉冲的表征
  • 内置 TPA 探测器 700-1100nm 下的灵敏度 >0.1W2
  • 紧凑型设计且带有SCPI 接口软件
  • 适用于高低重复率的超快激光器
Coherent® Lasercam™ 光束质量分析仪 Coherent® Lasercam™ 光束质量分析仪
  • 12位和14位数字USB 2.0接口
  • 高灵敏度和动态范围
  • 包括直观BeamView™软件

Laser Beam Analysis technology is used to measure the attributes of a laser beam in order to test its usefulness or compatibility for different laser applications. Laser Beam Analysis includes devices such as profiler systems that evaluate data from beam images to provide information such as beam location, peak intensity position, stability, or beam density. Laser Beam Analysis systems offer a range of information as well as a greater amount of control over many laser applications by delivering detailed information about a tested laser.

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