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Edmund Optics Beam Profiler 4M

Edmund Optics Beam Profiler 4M, #11-045

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产品编码 #11-045
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RMB 44,027.63
数量 1+
RMB 44,027.63
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帧频 (fps):
6.20 (at full frame)
包含的滤波器 :
Neutral Density, OD 4.0 (x1)
支架:
1" x 32 TPI (C-Mount)
像素大小,H x V (μm):
5.5 x 5.5
像素 (H x V):
2048 x 2048 (4.2 MegaPixel)
感应区域,H x V (mm):
11.3 x 11.3
计算机接口 :
Displays: 2D, 3D, XY and Beam Tracking
Dia. Definitions: D4σ, 1/e2 (13.5%), FWHM (50%), 86% of the aperture, Buffer Controls: Open File, Save Current Data, Save All Data, Previous/Next Image, Clear, Animate, Report: 2D, 3D, XY, Measures and Parameters.
Print screen tool in BMP (2D and 3D)
输入光束要求 :
Minimum 55μm (10 x 10 pixels)
波长范围 (nm):
350 - 1150
软件 :
USB Included

合规性

Certificate of Conformance:

产品系列说明

  • 高分辨率可准确测量及分析小光束质量特性
  • 可为大光束进行分析的大面积传感器
  • USB 3.0接口实现最快传输率

Edmund Optics® (爱特蒙特光学)光束质量分析仪设计用于测量各类激光束尺寸,为优化激光系统操作提供信息。这些激光束质量分析仪配有高分辨率和大面积传感器,以确保能够针对小型和大型激光束进行精密分析。有两种尺寸可供选择,光束质量分析仪采用适用于 1 英寸 x 32 TPI 安装的螺纹,使之能够与 C 接口配件兼容. 爱特蒙特光学光束质量分析仪备有一外部触发器,可通过脉冲激光与相机同步,同时具有 USB 2.0 与 3.0 兼容性,可提供业内最快的传输率。每台光束质量分析仪还包括具有多个显示选项(2D,3D 和 XY)的直观光束分析软件,以及许多控制工具,例如背景减除功能和高斯拟合.

注意:备有软件驱动器可供 下载.

 
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