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25.4mm Dia., 1mm Thick, 1064nm, Nd:YAG Laser Line Beam Sampler

TECHSPEC® Thin Nd:YAG Laser Line Beam Samplers

TECHSPEC® Thin Nd:YAG Laser Line Beam Samplers

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产品编码 #29-021 8 库存
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规格

概况

类型:
Beam Sampler

物理和机械特性

厚度 (mm):
1.00 ±0.10
直径 (mm):
25.40 +0.00/-0.10
有效孔径 (%):
90
平行度(弧分):
<0.50

光学特性

基底: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More
Fused Silica (Corning 7980)
折射率 (nd):
1.458
表面质量:
20-10
入射角 (°):
0 ±5
涂层:
Laser V-Coat (1064nm)
设计波长 DWL (nm):
1064
涂层规格:
Rabs <0.25% @ 1064nm @ 0 ±5° AOI
Damage Threshold, By Design: Damage threshold for optical components varies by substrate material and coating. Click here to learn more about this specification.
15 J/cm2 @ 1064nm, 20ns, 20Hz
Transmitted Wavefront Distortion:
0.167 @ 632.8nm

合规性

Certificate of Conformance:

产品概览

  • 1 毫米超薄设计,适用于安装空间或产品重量受限的应用场景
  • 未镀膜的第一个光学面提供菲涅尔反射
  • 第二个光学面使用AR 涂层用以提供高透射率
  • 高激光损伤阈值镀膜用以避免激光刻蚀损伤

TECHSPEC® 薄型 Nd:YAG 激光谱线光束取样器基于菲涅尔反射和透射特性设计,能隔离少量入射光束,以实现光束监测目的。这些光束采样器的设计厚度仅为 1 毫米,便于在安装空间或产品重量受限的情况下使用。此外,第二个光学面上具有高损伤阈值的抗反射(AR)涂层可最大限度地提高透射率,减少鬼影反射。光束采样器第二个光学面的涂层有多种选择,可提供针对不同激光谱线的涂层,包括 266nm、355nm、532nm 和 1064nm 波长。 TECHSPEC® 薄型 Nd:YAG 激光谱线束采样器采用紫外熔融石英基板,从紫外到红外波长范围内都具有出色的透光性和较低的热膨胀系数。这些光束采样器非常适合需要监测光束功率、波前畸变和光学损耗的应用。

请注意: TECHSPEC® 薄型 Nd:YAG 激光线束采样器可与 激光测量 产品配合使用,实时监测光束特性,如光束功率和光强分布。

技术数据

Laser Line Beam Sampler
Laser Line Beam Sampler

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