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用于热成像的 DLC 镀膜硅 (Si) 窗口片

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  • 硬度是锗的两倍
  • 8-12μm 波长范围内平均透过率 >70%
  • LWIR 应用中 Ge 的理想替代方案
  • 提供直径最大 76.2mm 的尺寸

用于热成像的 DLC 镀膜硅 (Si) 窗口片在精密 Si 基片的一面镀有类金刚石碳 (DLC) 膜,另一面镀有增透膜,非常适合在严苛环境中用作保护窗口。这些窗口片符合 MIL-F-48616 和 MIL-C-48497C 环境标准,在 LWIR 范围内具有出色性能,8-12μm 范围内的平均透过率 >70%。用于热成像的 DLC 镀膜硅 (Si) 窗口片具有出色硬度和耐刮擦性,具备很强的耐磨损和抗冲击能力,适合高温使用,是锗的理想替代品。这些窗口片具有高热导率,可用于散热,最高安全工作温度为 200°C。此类窗口片的常见应用包括热成像、医学成像、监控、炉体检测和过程控制。

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技术数据

Chart comparing transmission of silicon with DLC coating to uncoated and AR coated germanium from 8 to 12 micrometers
 
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