了解爱特蒙特光学®用于保证所有光学元件和组件质量的计量技术。进程内测量范围广泛，包括干涉仪、Shack-Hartmann 波前传感器、轮廓仪和光腔衰荡损耗计等。如需详细了解爱特蒙特光学的计量技术，请访问https://www.edmundoptics.cn/capabilities/metrology/。
无法测量就无法制造。爱特蒙特光学®运用各种计量技术设备来保证我们全球制造工厂生产的光学件和组件符合所有发布的标准。干涉测量是爱特蒙特严格的 ISO 9001 全球质量计划的关键组成部分。使用这种计量技术，爱特蒙特可以确保批量生产所需的过程控制和可重复性。干涉仪用于高精度的透射和反射波前测量，多种干涉仪配置，包括拼接、大小光圈和计算机生成的全息图设置。白光干涉仪还可测量超快激光光学元件（如我们的高散射反射镜）的表面粗糙度和量化群延迟色散。与大多数其他规格相比，实例群延迟色散的理论设计值通常相差较大，因此这个测量特别重要。对于一些组件，如我们的激光扩束镜，透射和反射波前误差使用 Shack-Hartmann 波前传感器而不是干涉仪进行测量。轮廓测量仪和坐标测量仪 (CMM) 探测光学元件的表面，以确定表面的曲率、平面度和不规则度。轮廓测量仪对它们可以测量的形状类型几乎没有限制，因此是非球面透镜计量技术的理想选择。通过分光光度法验证光学镀膜的反射和透射光谱特性。对于高反射或透射光学元件，光腔衰荡损耗计提供高精度的总损耗测量，在特定的激光线上灵敏度为百万分之一。成像镜头组件的分辨率与对比度使用 MTF（调制传递函数）、测试台、反向投影和定制的测试夹具进行测试。差分干涉对比 (DIC) 显微镜对透射材料执行高灵敏度缺陷检测，如分析激光损伤、光学镀膜和基片。环境测试设备在特殊情况下使用，以验证部件和组件是否满足抗冲击和振动、防潮和抗浸没的要求。爱特蒙特利用许多其他计量技术，包括测量表面粗糙度的原子力显微镜、镜片对准的共轴测量机和验证角度的自准直仪。凭借这些高精度计量系统和熟练的操作人员，无论是大批量还是小批量生产，爱特蒙特光学®都能始终如一地满足我们宣示的规格。可根据要求提供产品测试和认证报告。要了解有关爱特蒙特光学®的制造和技量能力，请访问
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