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爱特蒙特光束质量分析仪

Edmund Optics Beam Profiler 4M, #11-045
Edmund Optics Beam Profiler, #89-308

Edmund Optics Beam Profiler 4M, #11-045

Edmund Optics Beam Profiler, #89-308


  • 高分辨率可准确测量及分析小光束质量特性
  • 可为大光束进行分析的大面积传感器
  • USB 3.0接口实现最快传输率

Edmund Optics® (爱特蒙特光学)光束质量分析仪设计用于测量各类激光束尺寸,为优化激光系统操作提供信息。这些激光束质量分析仪配有高分辨率和大面积传感器,以确保能够针对小型和大型激光束进行精密分析。有两种尺寸可供选择,光束质量分析仪采用适用于 1 英寸 x 32 TPI 安装的螺纹,使之能够与 C 接口配件兼容. 爱特蒙特光学光束质量分析仪备有一外部触发器,可通过脉冲激光与相机同步,同时具有 USB 2.0 与 3.0 兼容性,可提供业内最快的传输率。每台光束质量分析仪还包括具有多个显示选项(2D,3D 和 XY)的直观光束分析软件,以及许多控制工具,例如背景减除功能和高斯拟合.

注意:备有软件驱动器可供 下载.

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