系列ID 系列ID用于识别产品系列介绍，使得用户利用搜索功能就能快速访问介绍页面。 #2779

经NIST认证的表面光洁度标准

NIST Traceable Scratch Dig Standards

符合 ISO 10110-7 和 ISO 14997 功能需求
第一表面图案用于系统校准或镀膜检查
第二表面图案用于测量表面缺陷

本表面质量标准可用于判定光学元件表面上的擦痕和疵点属于哪个级别。本品带60mm刻尺，每个面上都有6个尺寸不一的栅格，6个频率不一的刻线，栅格可用来测量不规则区域的缺陷，缺陷区域的等级数就是在这个面积下不良项的平方根。标准要求设置两个面，1面包括等级范围从0.004到0.040，而2面范围从0.040到0.400。第一个面等级标号标在玻璃衬底上面，第二个面等级标号标在玻璃衬底下面。阳版采用不透明图案，背景透明，阴版为透明图案，背景不透明。

注意: 每个产品都有承诺书。

技术信息

Plate 1
Grade No.	Circ. Diameter (μm)	Dim. of Scratch (μm)	Freq. Block (lp/mm)	Grid Block Line W (μm)	Grid Block Line Spacing (μm)
0.004	4.5	1 x 16	500	1	4.5
0.006	7	1.6 x 25	312.5	1.6	7
0.010	11	2.5 x 40	200	2.5	11
0.016	18	4 x 63	125	4	18
0.025	28	6.3 x 100	80	6.3	28
0.040	45	10 x 160	50	10	45

Plate 2
Grade No.	Circ. Diameter (μm)	Dim. of Scratch (μm)	Freq. Block (lp/mm)	Grid Block Line W (μm)	Grid Block Line Spacing (μm)
0.040	45	10 x 160	50	10	45
0.060	70	16 x 225	31.25	10	70
0.100	110	25 x 400	20	10	110
0.160	180	40 x 630	12.5	10	180
0.250	280	63 x 1000	8	10	280
0.400	450	100 x 1600	5	10	450