双轴线性标度测微尺

本线标测微尺可同时精确校准机器视觉系统的X轴和Y轴，校准时无需旋转，无需补偿相机宽高比例。本品有两组刻线，公制刻线（25微米一小格）和英制刻线（0.001英寸一小格）。测微尺材料可选玻璃镀铬或乳白玻璃镀铬。